亚像素级尺寸测量，适配精密结构件公差管控
精密结构件公差严苛。机器视觉以亚像素算法完成微型件的尺寸测量与形位公差判定，结合远心成像抑制透视畸变，保障精密制造的一致性。
亚像素级尺寸与形位公差测量
远心成像抑制透视畸变
微小特征的高分辨成像
测量数据支撑 CPK 趋势分析
外壳、中框、屏模组的外观与装配精度检测
焊点、元件错漏与虚焊的自动光学检测
柔性线路板金面、字符与断线的缺陷识别
序列号、二维码与铭牌的一字不差的读取追溯
3D 视觉引导异形件柔性上下料与装配
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