引线框架定位、镀层缺陷与外观识别
引线框架定位与镀层质量影响封装良率。机器视觉完成框架定位、镀层缺陷与外观识别，保障后道键合与封装精度。
引线框架高精度定位
镀层缺陷与外观识别
高速产线实时全检
缺陷坐标回传追溯
晶圆表面颗粒、划伤与光刻对位的亚像素检测
引脚共面度、BGA 植球与字符 AOI 高速检测
远心镜头 + 定制光源实现无透视畸变测量
基于自研算法平台完成复杂缺陷判定
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